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TS600T-PM-Y 偏光顯微鏡冷熱臺冷熱臺廣泛應用于半導體、高分子聚合物、液態晶體、冶金等各種研究領域。冷熱臺可以跟光學顯微鏡、共聚焦顯微鏡、激光拉曼、傅里葉紅外光譜儀、X射線衍射儀等設備聯用，用于材料在變溫條件下的研究和表征。
更新日期：2022-05-09
型號：TS600T-PM-Y
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簡要描述： TS-PM-Y 系列冷熱臺使用非磁性材料設計TS系列冷熱臺（-196~1500℃）：包括各種型號的冷臺、中溫熱臺、高溫熱臺、溫控探針臺及定制方案；可使用電極探針，也可以使用定制管殼對樣品進行封裝
更新日期：2022-05-09型號：瀏覽量：2225
TS-PM-Y溫控探針冷熱臺可獨立控溫，也可通過上位機軟件控制，溫度范圍廣，120℃/400℃/600℃/800℃/1000℃可選，可選擇透射光或反射光觀察 探針種類豐富，可根據用戶需求進行定制 軟件拓展性強，可提供LABVIEW等語言的SDK。
更新日期：2022-05-09型號：瀏覽量：2342
TS600-EM-Y 橢偏儀冷熱臺配合偏光顯微鏡使用，樣品位置可XY軸移動，該型號體積小巧輕薄，結構緊湊。 配套：A2101（吸附筆）、A2102（石英片）、A2510（無痕雙面膠）；
更新日期：2022-05-09型號：瀏覽量：1813
TS300N-SV-Y 聲速測量冷熱臺可以用于搭配聲速測量設備，進行聲速的變溫測量，實現變溫范圍-80到200℃，同時該型號可衍生用于光譜儀積分球等光學高低溫測試場合；
更新日期：2022-05-09型號：瀏覽量：930
簡要描述： TS400-R-Y 溫控探針系列專門針對材料電學測試而設計的一款產品，溫度范圍為-196~400℃，全程溫度穩定性控制0.5℃以內，采用四探針法可表征材料升溫和降溫階段電阻率隨溫度變化的特征。
更新日期：2022-05-09型號：瀏覽量：790
廠商性質：
